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초고해상도 송신 스캔 전자 현미경 Regulus 시리즈
기존 모델인 SU8240, SU8230, SU8220 및 SU8010을 재통합하여 Regulus8240, Regulus8230, Regulus8220, Regulus8100으로 파생되었습니다.'리글러스 시리즈'는 기존 모델의 관찰·분석 성능을 계승한 SU8200 시리즈
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초고해상도 송신 스캔 전자 현미경 Regulus 시리즈

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超高分辨场发射扫描电子显微镜Regulus系列

기존 모델인 SU8240, SU8230, SU8220 및 SU8010을 재통합하여 Regulus8240, Regulus8230, Regulus8220, Regulus8100으로 파생되었습니다.

'Regulus 시리즈'는 기존 모델의 관찰 및 분석 성능을 계승하여 SU8200 시리즈의 저소음 냉장 발사 전자총을 장착하였다*1, 높은 안정된 속류를 얻을 수 있습니다.

전자 광학 시스템의 최적화를 통해 Regulus8240/8230/8220은 1kV 조건에서 0.7nm, Regulus8100은 0.8nm로 해상도가 향상되었습니다.

또한 초고해상도의 능력을 충분히 발휘하기 위해 증폭배율도 과거 100만배에서 200만배로 높아졌다*1
Regulus8240/8230/8220/8100은 또한 사용자 지원 기능을 보완하여 이 기능을 통해 사용자가 각종 복잡한 신호의 검측 원리를 더욱 쉽게 이해하고 사용자가 기기의 최상의 성능을 충분히 발휘할 수 있도록 돕는다.

*1
Regulus8240/8230/8220 전용

  • 특징

  • 사양

특징

  • "SU8200 시리즈"의 냉장을 그대로 사용하여 전자총을 발사하다*2
  • 전자빔이 Flashing 후에 나타나는 높은 밝기 안정 영역을 안정적인 관찰의 구간으로 채택하여 낮은 가속 전압 조건에서 고해상도 관찰과 분석의 최적의 성능을 겸비하게 한다
    (Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV)
  • 오염이 적고 고진공 샘플 창고를 채택하다
  • 에너지 필터(옵션)를 사용하여 다양한 성분 대비 관찰 가능*2

극저 착륙 전압 아래 고해상도 관찰

极低着陆电压下高分辨观察
견본: 금 알갱이
착륙 전압: 10V

초고해상도 관찰

超高分辨观察
샘플: Pt 촉매
가속전압: 30kV

저가속 전압에서 고해상도 EDX 분석

低加速电压下高分辨EDX分析
샘플: Sn 볼
착륙 전압: 1.5kV

*2
Regulus8240/8230/8220 전용

사양

프로젝트 Regulus 8100 Regulus 8220 Regulus 8230 Regulus 8240
2차 전자 해상도 0.7 nm
(가속전압 15kV)
0.8 nm
(착륙 전압 1kV)*3
0.6nm(가속전압 15kV)
0.7nm(착륙전압 1kV)*3
착륙 전압 0.1~2 kV 0.01~20 kV
배율 확대 20~1000000배*4 20~2000000배*4
견본대 견본대 제어 3축 모터 (옵션 5축 모터) 5축 모터 구동
범위 이동 X 0~50 mm 0~50 mm 0~110 mm 0~110 mm
Y 0~50 mm 0~50 mm 0~110 mm 0~80 mm
R 360°
T -5~70°
Z 1.5~30 mm 1.5~40 mm
재현성 - - - ±0.5µm 이하 ±0.5µm 포함
*3
감속 모드에서 관찰
*4
127mm × 95mm 필름 기준 배율

관련 제품 분류

  • 초점 이온 빔 시스템(FIB/FIB-SEM)
  • TEM/SEM 샘플 전처리 장치
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