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제품 상세 정보
태양광 산업은 새로운 분야이기 때문에 실리콘 칩,EVA（PVB）、TPT（PVF）、알루미늄합금 등 태양광 재료 제조업체가 부품 제조업체에 납품할 때, 현행 실행 가능한 표준이 없고, 왕왕 부품 업계 IEC 시리즈 표준을 참조하여 층압 (패키지) 후 부품에 대해 종합 검측을 진행하고, 전기 성능 (zui 고출력, 절연 저항) 에 따라 품질 판별 근거로 삼는다.
그러나 빛이 부품에 미치는 영향 요소는 여러 가지이다. 실리콘 표면 감반막의 광학적 감쇠 (SWE), TPT 통기 투수성 변차로 인한 내부 부식, EVA 교련제 황변으로 인한 투광률 저하를 포함하여 모두 부품 전체의 전기 성능 저하를 초래할 것이다.
재료는 종종 ASTM 시리즈 표준을 참조하며, 대역폭 1nm는 EVA 재료 중 340nm(기 376nm), 313nm(카르보닐기 311/321nm), TPT 재료 C-C 키 340nm의 민감한 파장을 광노화 시험한다.
어셈블리의 경우 IEC 시리즈 표준을 참조하여 280~320nm, 280~385nm, 280~400nm, 320~400nm를 각각 측정해야 한다. 이른바 자외선 예처리 시험으로 후기 시험 자외선 요소로 인한 영향을 제거한다.
ASTM과 IEC 표준의 불통일성, 그리고 IEC 각 세트의 자외선 시험 표준의 혼란은 시험 목적을 달성하기 위해 통일된 기기가 필요하다는 것이 BR-UVT의 가치이다.이 시험상자는 TPT (PVF), EVA (PVB) 를 대상으로 각각 자외선 노화, 자외선 예처리 시험을 진행하여 전기 성능에 영향을 주는 진정한 원인을 비교하여 찾아낼 수 있다.
스튜디오 크기: D450mm × W1170mm × H500mm
앞뒤 시험면 유효 투사 영역: W900 × H210mm
램프의 중심 거리: 약 70mm
조명 온도 범위: 50 ℃ ~ 70℃/온도 허용치 ± 3 ℃
응축 온도 범위: 40 ℃ ~ 60 ℃℃/온도 허용치 ± 3 ℃
칠판 온도계 측정 범위: 30~80℃/허용 한도 ± 1 ℃
습도 범위:"95%R·H
수조 수심: 약 25mm 및 급수 자동 컨트롤러
표준 시험 부품 크기 75 × 150mm 또는 75 × 300mm
투사계 프로브가 등관 중심선에 설치되다.
투사도 연속 조절 가능, 광원 에너지 감쇠 자동 보상
물 함유 분사 시스템으로 조명, 응축, 분사 절차 제어 실현
폼 팩터 크기는 약 D530mm × W1350mm × H1350mm
오리지널 수입 UVA-340 형광 자외선 등관을 채택하다.
계기 출하 전 투사도 지표는 구환회사를 거쳐 표준에 따라 측정한다.
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